1.なぜ異物問題が続発するのか？
1.1 異物の定義・種類
1.2 最近の異物発生事例と特徴
2.混入しやすい異物とその対策
2.1 代表的な混入物質
（毛髪、繊維、昆虫、カビ、その他）
3.分析を行う前に
3.1 濾過捕集-光学顕微鏡観察、その他検知法
3.2 X線マイクロCT等、各種検査装置
3.3 事前の情報収集ならびに混入形態の確認
3.4サンプリングに必要なツール
3.5異物の性状確認(顕微鏡観察・簡易識別法)
4.分析手法の原理・特徴および組み合わせ
4.1 EPMA（SEM-EDX）、顕微IR、XRD、Raman、その他代表的手法
4.2 成分同定に至るまでのフロー
4.3 異物分析事例＆結果の解釈
5.FT-IR分析の基礎（ダイジェスト）
5.1 FT-IR分析とは？
5.2 スペクトルの解釈
5.3 様々な試料への適用例
6.問題解決＆発生防止のために
6.1 原因解明への道程
6.2 異物の分析結果が原因物質と直結しないケース
6.3 異物混入を未然に防ぐための分析支援
７.まとめ
7.1. 問題演習
7.2. 質疑応答
☆注意事項
今回のセミナーでは、同業他社（分析受託会社）ならびに外国為替法令の解釈および運用において規定される
非居住者（https://www.cistec.or.jp/export/faq/faqansers.html 中の“居住者及び非居住者の判定”参照）
の参加をお断りします
講師紹介
1992年住化分析センター入社後、異物分析に必要な設備導入・ラボ整備から、事業立ち上げに携わる。
その後、各種材料のマイクロアナリシス、製造工程管理分析 (設備洗浄確認試験) 、
次世代蓄電池材料評価技術開発 (NEDO) および放射光による分析技術開発等を行う。
いずれの業務でも、分析試料中の混入異物による問題に対して何らかの形で繋がっていた。
