外観目視検査の見逃し問題を解決するための
周辺視目視検査法による外観検査上手進め方
【会場/WEB選択可】

外観検査の精度向上を図る周辺視目視検査法の進め方,照明・姿勢・器材の配置等の作業条件の改善,および検査員の早期育成について,具体的な実例を交えて詳しく解説する特別セミナー!!
講師
周辺視目視検査研究所 代表 佐々木 章雄 先生 
日本IBMにてIEの一環として周辺視目視検査法を発見,日立GSTを経て 現在に至る
日時
2023/10/5(木)10:00〜16:30
会場

TH企画セミナールームA

 

会場案内
受講料 (消費税率10%込)1名:49,500円 同一セミナー同一企業同時複数人数申込みの場合 1名:44,000円         ※WEB受講の場合、別途テキストの送付先1件につき、配送料1,210円(内税)を頂戴します。
テキスト
講師
周辺視目視検査研究所 代表 佐々木 章雄 先生 
日本IBMにてIEの一環として周辺視目視検査法を発見,日立GSTを経て 現在に至る
日時
2023/10/5(木)10:00〜16:30
会場

TH企画セミナールームA

 

会場案内
受講料 (消費税率10%込)1名:49,500円 同一セミナー同一企業同時複数人数申込みの場合 1名:44,000円         ※WEB受講の場合、別途テキストの送付先1件につき、配送料1,210円(内税)を頂戴します。
テキスト
受講形式
会場・WEB


テキスト
製本資料(受講料に含む)
※WEB受講の場合、別途テキストの送付先1件につき、配送料1,210円(内税)を頂戴します。


受講対象
製造業全般の品質保証、検査部門
マネージャー、エンジニア、検査員等


予備知識
特に必要ありません。

習得知識
1)周辺視目視検査法全般と
2)周辺視目視検査法の導入方法
3)検査動作、視覚、等の付随知識  など 

講師の言葉
従来の目視検査では、集中して欠陥を探す「不良探し」が一般的な指導方法でしたが、実は、これこそが、不良品の見逃しが減らない、無くならない大きな要因です。
講師は、年間を通して見逃しのないベテラン検査員の動作分析および機能分析を行った結果、『周辺視』、『瞬間視』、『衝動性眼球運動』という視覚システムを活用して、「良品の確認」と「リズム」で検査を行っていることを解明しました。
これらは、経験の浅い検査員でも容易に習得できることから、ベテランと同等以上の生産性を達成できるようになり、さらに光源の種類や強さを最適化することで、出来高を挙げながら
見逃しを無くす効果が得られます。また、併せて、検査員の心身における労働環境の改善・向上も図ることができます。
本セミナーでは、本検査法の原理や導入方法、改善効果などについて、事例を交え、わかりやすく解説します。特に、不良品の見逃しや検査員の習熟期間でお悩みの管理者や現場作業者に、おすすめします。

プログラム

1.“周辺視”目視検査法の理解
(1)従来の目視検査の問題点(検査員の適正はない!)
(2)大脳視覚システムの機能の理解と限界
(3)「“周辺視”目視検査法」展開の5つのポイント
 ①「不良品探し」から「良品確認」へ
 ②「中心視力(凝視)」から「周辺視力・瞬間視」へ
 ③「活動性眼球運動、走査眼球運動」から「衝動性眼球運動」へ
 ④「固定して凝視」から「よい作業リズム」へ  ⑤残像効果の有効活用

2.“周辺視”目視検査法の導入ステップ
(1)原理の正しい理解
 ●周辺視目視検査法は、大脳視覚システムの疲労を軽減する
(2)良品限度見本の作成
 ●「視覚」記憶の作りこみのために現物で訓練をする
 ●正確な見え方の訓練
(3)最適なハンドリング
 ●1日中作業をすることを考慮したリズミカルな動作の構築
(4)作業姿勢の最適化(正しい姿勢)
 ●リズムが良いと疲労の少ない正しい姿勢になる
(5)導入訓練手順

3.見逃しの原因となる検査対象物と光源(検査用照明)の関係
(1)明るいほど見易いか? 見逃しは少なくなるか?
 ●明るすぎると、目の感度が低下することにより、発見能力が低下する
(2)検査用途ごとの光源の種類と適用方法
 ●平行光、拡散光、透過光の正しい使い方で眼精疲労は大きく改善する
(3)単純な見逃しに多い「明順応」と「暗順応」
 ●「明順応」と「暗順応」はどんな現象か
 ●危険な状況である「訓化」とはどんな現象か
(4)LED光源の問題点
 ●青色光の“副作用”を知る
(5)作業リズムのフロー効果
 ●単純反復作業は、作業員のモラルを低下させるか
 ●リズムは「快」を誘い、「快」は病み付きを誘う
(6)適切な検査方法とは
 ●検査方法の選択ミス
 ●光源の種類と配置
 ●リズムが作れない方法のミス
 ●拡大鏡での検査

4.実践事例の紹介 ※タイの部品メーカー、国内メーカーでの適用事例 など

5.質疑応答

6.個別相談(セミナー終了後15分程度、会場参加者のみ



講師紹介
略歴
1970年日本IBM 藤沢工場入社以来、一貫して IE(インダストリアル・エンジニアリング)業務に従事、
1998年に業務上のニーズにより検査の生産性倍増と見逃し半減が要求され、動作分析と機能展開により「周辺視目視検査法」を開発した。
2003年にHDD事業部が日立に売却後、早期定年退職し中国企業でIEの指導を行っていた。
同時期、㈱日立グローバル・ストラテジーズの海外量産工場にて生産性向上の指導も行っていた。
元慶応大学の川瀬武志先生門下の先生方と「周辺視目視検査法」の共同研究および、セミナー講師やコンサルタントとして周辺視目視検査法の普及活動も行っている。
また、画像応用技術(学会)の分科会として香川大学石井教授を主査として産学協同の研究会(感察工学研究会)を2010年以来活動をしている。(名誉会長)