故障事例,故障メカニズム,各種部品ごとのウィークポイント,デバイス評価時のおさえどころについて,豊富な経験に基づき,様々な事例を交え詳しく解説する特別セミナー！！
約700ページに及ぶテキストは辞典としても役立てることが可能です。
- 講師
技術コンサルタント 伊藤 千秋 先生
オムロン株式会社 品質保証部長，部品技術部長等歴任後現職 制御機構部品の品質保証を15年，自動車電装部品の品質保証23年経験，品質・信頼性一筋のプロフェッショナル この間，日本科学技術連盟 信頼性開発技術研究会 委員長などを歴任
- 日時
- 2025/7/25（金） 10:00〜16:50
- 会場
- 受講料
（消費税率10%込）1名：49,500円 同一セミナー同一企業同時複数人数申込みの場合 1名：44,000円
※WEB受講の場合、別途テキストの送付先1件につき、配送料1,210円（内税）を頂戴します。
- テキスト
- 製本資料（受講料に含む）
受講概要
- 受講形式
会場・WEB
- 受講対象
関心があればどなたでも受講可能
※事前の質問をお受けいたします。
th@thplan.comまでご連絡をお願いします。
- 予備知識
必要ありません。
事前にアンケートを取り質問も受け付けます。
- 習得知識
事例ごとに故障モードと故障メカニズム、関連した理論も書かれているので多角面からの知識を得ることができる。
100余に厳選した故障事例の現象からメカニズム、対策までが製本された1000頁超のテキスト本として残る。後から自習してもわかるようにテキスト構成がしてあるので辞書のように使うことができる。
1)故障事例
2)故障メカニズム
3)部品ごとのウィークポイント
4)デバイス評価時のおさえどころ など
- 講師の言葉
本セミナーのテキストには機構部品と電気機構部品、電子部品のそれぞれの分野で確認される主要故障モードについて100超の事例がリストアップされている。この講座担当の講師の40年以上にわたる信頼性の経験と知識を故障事例に集約して次代の方々に伝授する。それぞれの事例は可能な限り、技術データ、写真、図を多く取り入れてあり、解説を聞くことによって故障の原理、傾向、故障発生機構を知ることができ、今まで突き詰められなかった技術分野やあいまいだった知識を改めて習得でき、より適切な真因追求とより適切な対策がとれるようになる。この講座を受けることで間違いなくあなたは今まで以上の博学な技術者になれる。
講座では100余の事例を取り込んであるが、単なる事例の説明や解説でなく、そこから得られる原理原則や法則性を含めたレクチャを時間の許す限り実施する。機構部品・電子部品の故障を広範囲に深く突き詰めたい方々には技術ライブラリー、故障物理辞典代わりに利用していただくとよい講座である。
- 受講者の声
物が異なっていても共通したメカニズム、原因があって、ある理論、法則性に基づいて故障は発生しているという点が興味深かった。解析を行う際に様々なデータからいかに共通点、相違点を見つけるか、これを極めて行きたいと前向きな気持ちになれました。
理論をふくめた関連知識の広範囲にわたる説明で知見、知識がより広まった。
多くの示唆をいただきました。会場受験でいま進めているテーマのアドバイスを受けることができて助かりました。
実例を踏まえた解説で業務時に意識すべきポイントを学ぶことができました。テキストも充実しており、辞書としても活用でき、社内でも活用できそうです。
講師の経験・知見に基づく話で説得性があり、よく納得できました。
プログラム
１．電子部品の主要な故障モードの故障発生機構とその対策
(1) Auワイヤ引張断線
(2) Auワイヤ溶断
(3) Auワイヤ脆化断線
(4) アルミワイヤ断線
(5) ダイボンド剥離
(6) ワイヤ短絡
(7) 毛細管凝縮リーク劣化
(8) イオンマイグレーション
(9) ストレスマイグレーション
(10) エレクトロマイグレーション
(11) 過電圧破壊・過電流破壊
(12) 耐圧リーク劣化
(13) ダイボンド冷はんだ剥離
(14) 静電気破壊
(15) パワーサイクル疲労破壊
(16) リフローパッケージクラック
(17) コンタクトホール断線
(18) アルミ配線腐食
(19) ステップカバレージ
(20) パッシベーションスライド
(21) ワイヤ剥離
(22) パープルプレイグ接合劣化
(23) カーケンダルボイド接合劣化
(24) ワイヤ共振破壊
(25) ポリシリコン絶縁膜リーク劣化
(26) スパッタ水分付着リーク劣化
(27) シリコン結晶欠陥リーク劣化
(28) ラッチアップ
(29) ダイクラックリーク劣化
(30) LED硫化腐食
(31) セラミック振動子発振停止
(32) 水晶振動子発振停止
(33) 積層セラミックコンデンサ内層割れ
(34) 積層セラミックコンデンサ内層剥離
(35) アルミ電解コンデンサ封止劣化
(36) アルミ電解コンデンサ缶接触短絡
(37) アルミ電解コンデンサ電極箔短絡
(38) バリスタサージ劣化短絡焼損
(39) セラミックコンデンサ圧電現象
(40) セラミックコンデンサ電歪現象
(41) セラミックコンデンサ高電界短絡現象
(42) セラミックコンデンサ電極マイグレーション
(43) フィルムコンデンサ熱劣化
(44) フィルムコンデンサ圧縮割れリーク劣化
(45) 角チップ抵抗抵抗体電食
(46) 抵抗皮膜硫化断線
(47)角チップ電極剥がれ
(48) チップ部品はんだ熱疲労破壊
(49) 角チップ抵抗硫化腐食
(50) 抵抗サージパルス破壊
(51) タンタルコンデンサリーク劣化
２．電気機構部品・構造部品の主要な故障モードの故障発生機構とその対策
(1) 接触障害
(2) 接点脱落
(3) 接点溶着・消耗・転移
(4) 硫化銀ウィスカ
(5) マイグレーション
(6) トラッキング
(7) 毛髪銀
(8) ウィスカ(Sn・Zn・Cd・外部応力)
(9) プラスチックウィスカ
(10) 応力腐食割れ
(11) 水素脆性割れ
(12) 熱疲労破壊
(13) 疲労破壊
(14) 脱亜鉛現象
(15) 局部電池作用
(16) 選択腐食
(17) 隙間腐食
(18) 微摺動摩耗
(19) 加水分解劣化
(20) 硝酸反応腐食
(21) 亜酸化銅増殖現象
(22) 赤燐難燃剤リーク劣化
(23) 接触障害（ブラックパウダ）
(24) 接触障害（ブラウンパウダ)
(25) 接触障害（シリコーン生成物）
(26) 樹脂配合剤劣化（アウトガス）
(27) 硫化クリープ腐食
(28) 塩化反応
(29) 毛細管凝縮
(30) 化学凝縮
(31) 溶食（くわれ）
(32) 凝固割れ（引け巣）
(33) はんだクリープ割れ
(34) 板バネクリープ
(35) プラスチッククリープ
(36) はんだ剥離（ウィッキング）
(37) はんだ剥離（ブラックパッド）
(38) はんだ剥離（燐酸腐食）
(39) Sn-Cu合金ウィスカ
(40) 基板スルーホール断線
(41) 基板リーク劣化
(42) 基板電食
(43) 注型樹脂熱疲労によるクラック
(44) ステンレス鋼の亜鉛脆化割れ
(45) ステンレス鋼の表層すべり破壊
(46) 環境応力割れ
(47) オゾン劣化
(48) 接触障害（銅害）
(49) 銀めっき膨れ（ブリスター）
(50) ダイカスト塗装膨れ
(51） ピンキング
(52)アルカリストレスクラッキング
質疑・応答
略歴
社歴
昭和無線工業（現ＳＭＫ）:5年2ヶ月
トリオ（現ＪＶＣケンウッド）:3ヶ月
立石電機（現オムロン）:38年7ヶ月
職歴
スイッチ製造技術:3年2ヶ月
コネクタ製造技術:1年
圧着・ハーネス製造技術:2年
アンプ・チューナ製造技術:3ヶ月
部品メーカ監査（加工部品):20年 （電子部品・機構部品）:25年 制御機構部品(リレー・スイッチ・タイマ・センサ）品質保証 :15年
自動車電装部品(ＥＣＵ・リレー・センサ・スイッチ）品質保証 :25年
最終職位
品質保証部並びに部品技術部 部長 韓国オムロン電装 理事(役員) 上海欧姆龍控制電器 顧問 福達合金材料 顧問
学会活動
日本信頼性学会会員:23年
日本信頼性学会企画委員（地域委員）:2年
日本科学技術連盟講師:24年 日
本科学技術連盟信頼性開発技術研究会 委員長:2年(1期)
日本科学技術連盟信頼性開発技術研究会 副委員長:4年(2期）