市場不良を少なくするための
海外調達電子部品のトラブル未然防止と信頼性
信頼性評価の観点から海外製電子部品の選定の仕方，評価の仕方について詳細に解説する特別セミナー！！
- 講師
M.A信頼性技術オフィス 代表 本山 晃 先生
松下電工(株)総合技術研究所等にて研究・評価に従事，パナソニック(株)定年退職後，現職
大阪大学 工学研究科 非常勤講師
- 日時
- 会場
- 受講料
- 1名：48,600円 同時複数人数申込みの場合 1名：43,200円
- テキスト
受講概要
予備知識
信頼性の基礎知識（故障率の定義程度）
習得知識
１）信頼性の高い電子部品の調達の仕方
２）電子部品のロットバラツキ評価や寿命予測法など
講師の言葉
最近では電子回路応用製品の低コスト化のために、海外の電子部品を使用するメーカが増えています。 ところが、選び方を間違うと大きなトラブルを引き起こす可能性があります。 事例としては、パソコンのマザーボードの短寿命トラブルや、テレビ・扇風機・洗濯機の発火・発煙トラブルなどです。 これらのトラブルは、海外製電子部品の早期の機能低下やロットによる特性値変動が原因で生じています。 そこで今回、如何に市場不良を少なくするか、信頼性評価の観点から海外製の電子部品の選定の仕方・評価の 仕方を詳細に解説します。
プログラム
1. 海外製電子部品起因による市場トラブル 2. 市場トラブルから学ぶ対処の方法 2-1. 市場トラブル原因の考察 2-2. トラブル原因の故障メカニズム 2-3. トラブルの未然防止の方法 2-3-1. トラブル防止のための考え方 2-3-2. 部品調達時の様々なチェック方法 3.電子部品調達時に知っておくべき用語と試験法 3-1. 信頼性用語の定義 3-2. 信頼性特性値の考え方 3-3. 信頼性試験の種類と目的 4. 電子部品の信頼性を評価する具体的な方法 4-1. 市場使用時間と故障発生数の関係 4-2. ロットバラツキ（特性バラツキ）を見抜く評価の方法 4-2-1. 提出された工程抜き取りデータからロットバラツキを求める 4-3. 早期の機能低下（短寿命）を見抜く評価の方法 4-3-1. 提出された抜き取り信頼性試験データから寿命を予測する 4-3-2. 試験を実施して寿命を予測する（温度で機能低下するトラブル） 4-3-3. 試験を実施して寿命を予測する（湿度で機能低下するトラブル） 4-4. 不安全問題に対処する方法 5. 市場で故障した電子部品の具体的な故障解析事例
講師紹介
略歴 ・1977年 3月：長崎大学工学部 材料工学科卒業 ・1977年 4月：松下電工㈱入社 綜合技術研究所配属 ⇒ﾌﾞﾚｰｶ用ﾊﾞｲﾒﾀﾙ周辺の熱解析やｱｰｸ放電現象の研究 ・1991年 6月：綜合技術研究所 評価技術研究所 主査技師 ⇒リレーの接触信頼性研究 ⇒電子回路搭載電子部品の信頼性研究 ・2003-12年 ：解析センター 主査、主幹技師 ・2012年09月：大阪大学大学院工学研究科 招聘教員 ・2014年11月：パナソニック㈱ 退職 ・2015年 6月：M.A信頼性技術オフィス 設立 著作 ・1999年：品質工学応用講座「電子・電気の技術開発」/日本規格協会 ・2009年：電気化学測定と解析テクニック事例集 /㈱情報機構 ・2009年：高分子材料の劣化と寿命予測 /Ｓ＆Ｔ㈱ ・2011年：電子機器技術者のための新しい高信頼性技術と管理手法/日刊工業新聞社 ・2011年：高機能フィルムの最新技術と用途展開 /㈱大成社 ・2012年：ﾊﾞｯﾃﾘｰ/ﾊﾟﾜｰﾃﾞﾊﾞｲｽ/ﾓｼﾞｭｰﾙの信頼性加速試験と故障予測/㈱技術情報協会 ・2014年：ﾌﾟﾗｽﾁｯｸの割れ(ｸﾗｯｸ)･破壊ﾄﾗﾌﾞﾙと対応・解析技術/㈱情報機構 ・2014年：コンデンサの故障・信頼性・トラブル対策★徹底解説/㈱電子ｼﾞｬｰﾅﾙ ・日本信頼性学会 所属 日本信頼性学会 広報委員、関西支部 幹事 故障物性研究会 幹事、信頼性試験研究会 会員 ・大阪大学大学院工学研究科 非常勤講師 ・1986年 ：米国継電器工業会 第2位受賞 ・1989年 ：日本電機工業会 技術功労者 発達賞 ・1997年 ：日本信頼性学会 奨励賞 ・2009年 ：日本信頼性学会 優秀記事コラム賞 ・2010年 ：信頼性・保全性シンポジウム 特別賞