シングルppm、サブppmの品質を達成するための
車載用半導体デバイスの故障モードと高品質・高信頼性技術
～故障モード事例と不良ゼロを達成する具体例～
不良をゼロにする技術、サブppmを達成する故障物理を活用した手法、
および不良メカニズムと対策を具体的に解説する特別セミナー！！
- 講師
株式会社 東芝 セミコンダクター社 大分工場 品質保証部 部長 瀬戸屋 孝先生
- 日時
- 会場
- 受講料
- 1名：47,250円 同時複数人数お申込みの場合1名：42,000円
- テキスト
受講概要
必要な予備知識
半導体に関する基礎知識
受講後の修得知識
車載用半導体デバイスの要求品質を確保する為の具体的手法を習得できます。
講師の言葉
車に使われる電子部品は飛躍的に増えて来ており、車載用半導体デバイスは半導体メーカーにとっても， 期待のかかる分野になっています。民生用半導体と車載用半導体デバイスの大きな違いは使用温度と、 品質・信頼性への要求が格段に高いという事であり、シングルppm、サブppmの品質を達成するにはそれぞれ アプローチが異なります。 本セミナーでは、不良をゼロにする技術を概説すると共に、サブppmを達成する為の故障物理 を活用した手法や、故障モード別に具体的な不良メカニズムと、その対策含めてより具体的に車載用半導体 デバイスで要求される高品質、高信頼性を達成する手法を具体的に解説します。
プログラム
１. 背景（はじめに）
２. 車載半導体LSIの開発、技術動向
１）車載半導体の使用用途の動向 ２）車載半導体に要求される品質 ３）不良率低減に向けた具体的アプローチ
３．車載半導体の市場での不良モードと信頼性
１）ＬＳＩの解析動向技術と解析事例 ２）世代毎の主要不良モードと解析事例 ３）車載用半導体デバイスで発生する故障事例と対策
４．半導体LSIで不良をゼロにする技術
１）工程不良（ゼロタイム）不良をゼロにする技術 ２）不再現不良を低減させる具体的アプローチ ３）初期不良をゼロにする技術 ４）耐用寿命を確保する技術 ５）破壊不良低減に向けた具体的アプローチ
５．車載半導体デバイスの故障モードの加速性、寿命予測
１）トランジスタで発生する不良モードと加速試験法 ２）配線で発生する不良モードと加速試験法 ３）パッケージで発生する故障モードと加速試験法
６．車載半導体の製造品質向上施策
１）製造工程の車載デバイス管理 ２）車載工程での作業者管理 ３）車載品質確保の為の管理方法
７．車載半導体の信頼性向上施策
１）設計段階での信頼性向上施策 ２）製造段階での信頼性向上施策 ３）スクリーニングによる信頼性向上施策
８．質疑応答とまとめ
講師紹介
1983年東芝入社以来 個別半導体、ＢｉｐＩＣ、システムＬＳＩの信頼性技術品質保証業務に従事。] 専門は半導体デバイスの信頼性技術（関連論文多数） 信頼性学会会員、日科技連開発技術研修会運営委員