電子機器の故障・劣化の原因となっている
マイグレーションの成長メカニズムと寿命予測および防止方法
マイグレーションの試験・評価、成長メカニズム、寿命予測方法
およびマイグレーション防止法を解説する特別セミナー！！
- 講師
富山県工業技術センター 機械電子研究所 所長 工学博士 藤城 敏史先生
- 日時
- 会場
- 受講料
- 1名：47,250円 同時複数人数お申込みの場合1名：42,000円
- テキスト
受講概要
必要な予備知識
特になし。できれば電子部品の信頼性に関する基礎知識。
受講後の修得知識
1)フィールドで発生したマイグレーションの判断 2)信頼性評価のためのマイグレーション試験方法 3)マイグレーションによる寿命の予測方法 4)マイグレーションの防止手法の概要
講師の言葉
比較的低電圧で発生するイオンマイグレーションについて、事前にマイグレーション特性を評価するために実施 するマイグレーション試験および評価の具体的な技法、マイグレーション現象に伴って析出した金属のデンドライト （樹状模様）の成長メカニズムとフラクタル次元を用いた寿命予測方法、マイグレーション防止のための具体的な 方法などを紹介する。
プログラム
１．マグレーション現象
1.1 マイグレーション現象の概要 1.2 種々の材料のイオンマイグレーション 1.3 マイグレーションに影響を与える種々の条件
２．マイグレーション評価試験方法
2.1 マイグレーション評価試験用試料 2.2 温湿度環境試験 2.3 水溶液中試験 2.4 その他の試験法
３．マイグレーション評価方法
3.1 光学的評価 3.2 電気的評価 3.3 その他の評価法 3.4 マイグレーション試験の具体例（Ag導電塗料の場合）
４．マイグレーション成長メカニズム
4.1 析出物の成長 4.2 デンドライトのフラクタル性 4.3 寿命の予測方法 4.4 マイグレーション試験の再現性 4.5 イオンマイグレーションのメカニズム
５．マイグレーションの防止方法
5.1 封止による方法 5.2 材料による方法 5.3 その他の方法 5.4 実装におけるマイグレーションと対策例
講師紹介
略 歴 ： 72年富山大学工学部生産機械工学科卒業。73年富山県に採用され、75年から富山県工業試験場 （現富山県工業技術センターに勤務、現在に至る。H7電気学会プリント基板高信頼性絶縁技術調査専門委員。 主として、電子部品の信頼性向上の研究、マイクロマシン、協調制御ロボット、バイオセンサの開発などに従事。 工学博士（98年）。 所属学会： 電気学会、電子情報通信学会、精密機械学会 役 職： JPCAエレクトロケミカルマイグレーション試験方法規格部会委員