短時間で市場での品質レベルを確認するための
ＬＳＩの故障解析と半導体デバイスの加速試験の実際
半導体LSIの加速試験技術と品質保証方法について
故障モードとメカニズムを含めて解説する特別セミナー！！
都合により日時変更いたしました。
- 講師
株式会社 東芝 セミコンダクター社 大分工場 品質保証部 部長 瀬戸屋 孝先生
- 日時
- 会場
- 受講料
- 1名：47,250円 同時複数人数お申込みの場合1名：42,000円
- テキスト
受講概要
予備知識
半導体、LSIに関する一般的な基礎知識
修得知識
半導体、LSIの故障モードと加速性試験の考え方、品質信頼性の保証方法などの知識を習得できる。
講師の言葉
最近のLSIは、年々大規模化、高度化しており、システムオンチップの時代を迎えてきている。それにより、 システムの品質はLSIで決まる状況になり、LSIの品質、信頼性確保は益々、重要になってきている。 一方、システム自体の製品寿命は短くなる傾向にあり、開発期間短縮により、十分な評価時間が確保できずに、 市場で不具合が発生するケースも出てきている。 この講義では上記を踏まえて、短時間で市場での品質レベルを確認する手法としての加速試験法、加速試験 技術と品質保証方法について、故障モードとその物理メカニズムを含めて解説する。
プログラム
１. 背景
２. 半導体LSIの開発、技術動向
１）プロセス開発の動向
２）使用用途の動向
３．システムLSIの市場での不良モードと信頼性
４．各不良発生時期と不良率推定方法
１）ゼロタイム不良率推定方法 ２）初期故障率推定方法 ３）摩耗不良率推定方法
５．半導体デバイスの故障モードの加速性、寿命予測
１）トランジスタで発生する不良モードと加速試験
２）配線で発生する不良モードと加速試験
３）パッケージで発生する故障モードと加速試験
６．質疑応答
７．まとめ
講師紹介
１９８３年東芝入社以来、個別半導体、システムLSIの品質信頼性業務に従事。 信頼性学会会員 日科技連信頼性開発技術研究会運営委員