電子部品・電子機器の故障率・寿命予測の定量化のための
Ｅｘｃｅｌによる電子部品・電子機器の加速試験と寿命予測技術の向上
信頼できる既存データ活用による加速試験を寿命予測のＰＣ実習付 特別セミナー！！
- 講師
技術士 （元日立エンジニアリング株式会社 主任技師） 山本 繁先生
- 日時
- 会場
- 受講料
- 1名：47,250円 同時複数人数お申込みの場合1名：42,000円
- テキスト
受講概要
予備知識
■統計の基礎知識 （有ったほうが理解し易いが最低限の基礎知識は第１部 信頼性の基礎で解説する）
■ＰＣ Ｅｘｃｅｌ 基本操作できること
修得知識
■電子部品及び電子機器の寿命予測を定量的に把握する手法
■電子部品および材料に関する加速試験実施事例による寿命予測
持参品
ＣＤ－Ｒ読取装置付 ノートＰＣ（ＥＸＣＥＬ搭載済）
講師の言葉
電子機器・部品の日本経済への貢献度は依然として大きい。その背景には、製品の信頼性に対する認識と取組み、そして底辺技術の確かさがポイントになっている。
機器の品質水準を維持するためには、構成部品の新規採用時或いは定期的な信頼水準の確認が不可欠である。
一方国内外における同業他社との競争および顧客の製品に対するニーズの多様化は益々激化している。
信頼性評価の精度向上とスピードアップはこの市場競争に勝つキーテクノロジーのひとつであろう。開発時間を短縮しつつ、信頼度水準を維持向上させる手段の一つは加速試験の有効利用である。
とりわけ、信頼できる既存データの活用は効果的である。
本講座では、ＭＩＬ－ＨＤＢＫ 等の信頼性データおよび各種加速試験データをＥｘｃｅｌに取り込み簡便に処理できるプログラムを中心に据え、故障率および寿命予測を定量的に把握する。
受講者自身がパソコンと向き合って実感体得して頂くことを目的として内容構成している。特に次事項の数値定量化を必要としている人を対象にした。
①部品・材料の加速モデル実験式とそれを利用した加速係数の算定
②電子部品の使用環境に応じた故障率と寿命の定量化
③電子部品で構成する電子機器の定量的寿命予測
プログラム
Ⅰ．信頼性の基礎
１．信頼性解析手法 ２．試験データ処理と故障率推定法
Ⅱ．加速モデル式による寿命の予測
１．加速試験実施の基本 ２．加速試験実施事例（２８例） ａ．基板 ｂ．コンデンサ ｃ．半導体 ｄ．材料 ｅ．電機部品
Ⅲ．ＭＩＬ－ＨＤＢＫによる寿命予測
１．電子部品寿命予測算定プログラム ａ．抵抗 ｂ．コンデンサ ｃ．個別半導体 ｄ．ＩＣ ｅ．電気部品 ２．電子機器・ユニットの寿命予測算定プログラム ３．ＭＩＬ－ＨＤＢＫから読み取る電子部品の加速係数算定法
Ⅳ．応用事例
１．加速係数から寿命を予測する事例（マイグレーション例） ２．部品点数法による機器の信頼水準想定事例 ３．ワイブル確率紙を用いた寿命予測事例 ４．市場故障率からの故障率推定事例
講師のご略歴
室蘭工業大学 電気工学科 卒業
日立製作所 日立工場 勤務 （（電力用半導体の 設計・検査 担当）
日立エンジニアリング㈱ 勤務 （各種電源装置の設計、企画室にて経営戦略部門 担当）
茨城大学 工学部 非常勤講師 （電気・電子機器設計講座 担当）
所属学会： 電気学会 （Ｈ１２年 退会）