受講形式 WEB受講のみ ＊本セミナーはZoomシステムを使用したオンラインセミナーとなります。 受講対象 特になし。本件に興味がある方の受講をお待ちしています。 予備知識 車載用半導体のユーザ、開発、製造技術者としての知識。 習得知識 １）車載用半導体の品質 ２）信頼性を確保する手順 ３）国際規格 など 講師の言葉 電子デバイスでは民生機器の低収益性から、高品質を要求される車載用半導体に注目が 集まっています。車載用半導体では、民生品以上に厳しい環境条件、品質条件が要求され、 認定のための信頼性試験でも厳しい条件が要求されます。 半導体の信頼性認定ガイドラインとしては、米国ビッグ3が中心になって策定され、 今や世界標準になりつつあるAEC-Q100/101があります。AEC-Q100は、車載用半導体集積 回路を認定するための信頼性試験基準で、必要サンプル数の多さや試験時間の長さから評価 コストが膨大になるという問題があります。 その一方で、日本発の車載認定ガイドラインとしてJEITA ED-4708が2011年に発行され、 2017年7月にIEC で国際標準化(IEC 60749-43)されました。 本セミナーでは、AEC-Q100に準拠した試験を実施する場合の留意点と、問題点、対応方法 について概説します。また、今後IEC化される日本版のAEC-Q100規格EDR-4708について、 使い方について詳細に説明します。
プログラム
1. 車載用半導体集積回路の動向 1.1 車載用半導体集積回路の技術動向 ・民生品との品質、信頼性レベルの違い 2. 車載用半導体に要求される信頼性 2.1 加速性に基づいた必要信頼性試験条件 ・温度加速、湿度加速、電圧加速、温度差加速の考え方 2.2 事例紹介 ・実際の加速率、信頼性レベルの計算例の紹介 3. 半導体集積回路の認定ガイドラインの説明 3.1 AEC-Q100の内容と考え方 ・試験の進め方、条件、問題点 3.2 JEITA ED-4708の内容と考え方 ・品質保証の考え方、サンプル数、試験条件の考え方 3.3 国際標準化の状況について ・今後の車載認定規格の方向性 4. ミッションプロファイルを用いた信頼性試験設計 ・高温保証におけるデバイスの信頼性保証の考え方 5. 車載用半導体に要求される品質システム ・TS16949、VDA6.3、ISO26262、LV324等の規格概説 6. 国際規格の動向 6.1 AQC-Q100/101、LV324等国際車載規格の動向 6.2 国内の規格作成動向と国際規格化の動向 講師紹介 略歴 1983年東芝入社、以降品質信頼性業務に従事、2013年から2020年まで 東芝デバイス＆ストレージ社 品質統括責任者を担当。 学会等 JEITA 半導体信頼性小委員会 主査 日科技連 信頼性品質技術研究会 副委員長 RCJ (日本電子部品信頼性センター) 理事
