厳しい条件の信頼性試験に対応するための
AEC-Q100JEITA ED-4708を中心とした
車載信頼性認定ガイドライン
【WEB受講(Zoomセミナー)】

車載用半導体に要求される信頼性,車載用半導体の信頼性認定ガイドライン(AEC-Q100)
に準拠した試験実施の留意点と問題点,日本版規格のEDR-4708の使い方,車載用半導体
に要求される品質システム,国際規格の動向について解説する特別セミナー!!
講師
品質信頼性サポート代表 瀬戸屋 孝 先生
(JEITA半導体信頼性技術委員会 主査)
日時
2021/9/24(金)10:00〜16:00
会場

*本セミナーはWEB受講のみとなります

会場案内
受講料 (消費税等込み)1名:49,500円 同一セミナー同一企業同時複数人数申込みの場合 1名:44,000円
講師
品質信頼性サポート代表 瀬戸屋 孝 先生
(JEITA半導体信頼性技術委員会 主査)
日時
2021/9/24(金)10:00〜16:00
会場

*本セミナーはWEB受講のみとなります

会場案内
受講料 (消費税等込み)1名:49,500円 同一セミナー同一企業同時複数人数申込みの場合 1名:44,000円
受講形式
 WEB受講のみ
 *本セミナーはZoomシステムを使用したオンラインセミナーとなります。

受講対象
 特になし。本件に興味がある方の受講をお待ちしています。

予備知識
 車載用半導体のユーザ、開発、製造技術者としての知識。

習得知識
1)車載用半導体の品質
2)信頼性を確保する手順
3)国際規格 など

講師の言葉
 電子デバイスでは民生機器の低収益性から、高品質を要求される車載用半導体に注目が
集まっています。車載用半導体では、民生品以上に厳しい環境条件、品質条件が要求され、
認定のための信頼性試験でも厳しい条件が要求されます。
 半導体の信頼性認定ガイドラインとしては、米国ビッグ3が中心になって策定され、
今や世界標準になりつつあるAEC-Q100/101があります。AEC-Q100は、車載用半導体集積
回路を認定するための信頼性試験基準で、必要サンプル数の多さや試験時間の長さから評価
コストが膨大になるという問題があります。
 その一方で、日本発の車載認定ガイドラインとしてJEITA ED-4708が2011年に発行され、
2017年7月にIEC で国際標準化(IEC 60749-43)されました。
 本セミナーでは、AEC-Q100に準拠した試験を実施する場合の留意点と、問題点、対応方法
について概説します。また、今後IEC化される日本版のAEC-Q100規格EDR-4708について、
使い方について詳細に説明します。

プログラム

 1. 車載用半導体集積回路の動向
  1.1 車載用半導体集積回路の技術動向
   ・民生品との品質、信頼性レベルの違い

 2. 車載用半導体に要求される信頼性
  2.1 加速性に基づいた必要信頼性試験条件
   ・温度加速、湿度加速、電圧加速、温度差加速の考え方
  2.2 事例紹介
   ・実際の加速率、信頼性レベルの計算例の紹介

 3. 半導体集積回路の認定ガイドラインの説明
  3.1 AEC-Q100の内容と考え方
   ・試験の進め方、条件、問題点
  3.2 JEITA ED-4708の内容と考え方
   ・品質保証の考え方、サンプル数、試験条件の考え方
  3.3 国際標準化の状況について
   ・今後の車載認定規格の方向性

 4. ミッションプロファイルを用いた信頼性試験設計
   ・高温保証におけるデバイスの信頼性保証の考え方

 5. 車載用半導体に要求される品質システム
   ・TS16949、VDA6.3、ISO26262、LV324等の規格概説

 6. 国際規格の動向
  6.1 AQC-Q100/101、LV324等国際車載規格の動向
  6.2 国内の規格作成動向と国際規格化の動向



講師紹介
略歴
 1983年東芝入社、以降品質信頼性業務に従事、2013年から2020年まで
 東芝デバイス&ストレージ社 品質統括責任者を担当。
学会等
 JEITA 半導体信頼性小委員会 主査
 日科技連 信頼性品質技術研究会 副委員長
 RCJ (日本電子部品信頼性センター) 理事