～本ガイドライン（EDR-4708B）の概要と関連紹介～
① 概要 『日本発、IEC 60749-43の紹介とビジネスへのインパクト検証』
② 詳細 前半 『品質グレードと用途～摩耗故障』
1. 目的
2. 適用範囲
3. 品質グレードと用途
3.1 品質グレードの定義（事例）
4. 故障分布
4.1 初期故障
4.1.1 初期故障率
4.2 平均故障
4.2.1 平均故障率
4.3 摩耗故障
③ 詳細 後半 『信頼性試験～解説』
5. 信頼性試験
5.1 信頼性試験計画
5.2 信頼性試験項目
5.2.1 ファミリの考え方
5.2.1.1 ファミリによる寿命試験の実施
5.2.1.2 ファミリによる初期故障率の検証
5.2.2 ミッションプロファイル
5.2.2.1 車載エンジン周辺用途のミッションプロファイルを考慮した信頼性試験計画事例（１）
5.2.2.2 車載エンジン周辺用途のミッションプロファイルを考慮した信頼性試験計画事例（２）
5.2.2.3 車載キャビン周辺用途に対する信頼性試験計画事例
6. 強度試験（項目）
7. 参考試験
8. スクリーニング
9. 計算式，数値等の仮定のまとめ表
10. ミッションプロファイルの計算事例
11. 参考文献
講師紹介
１９７５年４月ＮＥＣ日本電気入社、半導体集積回路事業部生産技術部配属その後民生製品生産技術製品担当、九州日本電気、
米国ＮＥＣローズビル工場、米国ＮＥＣサンタクララ、製品開発、ＰＫＧ・テスト開発、信頼性品質・技術等に従事。
社外では２００４年度よりＳＥＭＩＴＲＣ委員会委員長、ＪＥＩＴＡ半導体部会信頼性技術小委員会サブコミティ・
認定ＷＧリーダー、ＩＳＯ/ＴＣ２９２国際プロジェクトリーダ、国内審議委員会委員長に従事。
２０１４年３月ルネサスエレクトロニクス（ＮＥＣ、日立、三菱の３社統合）定年退職。
２０１４年４月より日本規格協会及び東芝に非常勤嘱託勤務。
