1.基本的な考え方
(1) 寿命とは
(2) 故障率増加型故障モードと故障率一定型故障モード
・応力限界
・市場での故障の起きかた
・ワイブル分布
・形状パラメータｍ、尺度パラメータη、位置パラメータγのもつ意味
・故障率曲線

2.故障率
(1) ワイブルパラメータｍ、ηからの故障率のもとめかた
(2) カイ二乗分布からの故障率のもとめかた

3.寿命判定の定性的判定と定量的判定における試料数
(1）信頼水準とロット許容不良率
(2) 超幾何分布に基づく抜取表
(3) MIL-S 19500抜取表

4.基本となる寿命予測法
(1)ファーストフェイラーポイントへのワイブルパラメータｍ当てはめ寿命推定法
(2)材料Ｓ－Ｎデータからの寿命推定法
(3)対数直線化からの外挿による寿命推定法
(4)べき乗則に基づく乗数による寿命推定法
(5)故障モデル式をつかった寿命推定法
　①アレニウス則による寿命推定法　
　②アイリング則による寿命推定法
　③コフィンマンソン則による寿命推定法
　④ラーソンミラー則による寿命推定法
　⑤水蒸気圧則による寿命推定法
(6)市場回収品劣化度比較法
(7)市場環境劣化測定データ劣化度比較法

5.部品・故障モード別の寿命ならびに寿命式のもとめかた
(1)はんだ・基板
　　はんだ熱疲労寿命
　　リーク劣化寿命
　　はんだクリープ劣化寿命
(2)アルミ電解コンデンサ
　　ドライアップ寿命
(3)パワーＭＯＳＦＥＴ・パワートランジスタ・ＳＣＲ・サイリスタ・ＩＧＢＴ
　　パワーサイクル劣化寿命
　　サーマルサイクル寿命
　　ダイボンド接合劣化寿命
　　酸化膜経時劣化寿命
(4)バリスタ
　　サージ電圧劣化寿命
　　熱劣化寿命
(5)炭素皮膜抵抗
　　電食劣化寿命
　　パルスサージ劣化寿命
(6)発光ダイオード
　　熱衝撃ワイヤ劣化寿命
　　熱劣化寿命
　　硫化劣化寿命
(7)フィルムコンデンサ
　　湿度劣化寿命
(8)積層セラミックコンデンサ
　　リーク劣化寿命
　　高電界破壊寿命
(9)整流ダイオード
　　逆回復サージ寿命
(10)ＩＣ
　　湿度劣化寿命
(11)トランス・ソレノイド・コイル
　　湿度劣化寿命
(12)コネクタ
　　寿命因子田口メソッド解析法
　　微摺動摩耗寿命
(13)リレー
　　接点溶着寿命
　　酸化・硫化・有機被膜劣化寿命
(14)スイッチ
　　クリープ劣化寿命

6.寿命故障モードをもつ部品の構造と寿命因子
(1)はんだ接続並びに基板
　寿命に影響する材料、構造、接合要素と故障モード、メカニズム、対策
　　・はんだ熱疲労
　　・はんだ接続間リーク劣化
　　・はんだクリープ
(2)アルミ電解コンデンサ
　寿命に影響する材料、構造、接合要素と故障モード、メカニズム、対策
　　・電解液揮発（ドライアップ）
　　・封止ゴム弾力劣化ならびに溶剤劣化による電解液漏れ
　　・電極箔短絡による電解液漏れ
(3)パワーＭＯＳＦＥＴ，パワートランジスタ、ＳＣＲ、サイリスタ、ＩＧＢＴ
　寿命に影響する材料、構造、接合要素と故障モード、メカニズム、対策
　　・パワーサイクル
　　・サーマルサイクル
　　・回復動作逆サージ劣化
　　・ワイヤ断線
　　・ワイヤ接合高温劣化
　　・ダイ接合劣化
(4)積層セラミックコンデンサ
　寿命に影響する材料、構造要素と故障モード、メカニズム,対策
　　① 内部電極割れリーク劣化
　　② 高電界破壊
(5)積層フィルムコンデンサ
　寿命に影響する材料、構造要素と故障モード、メカニズム,対策
　　① フィルム圧縮割れリーク劣化
　　② 電極リード接合劣化
(6)発光ダイオード
　寿命に影響する材料、構造要素と故障モード、メカニズム,対策
　　①熱衝撃ワイヤ断線
　　② 光劣化
　　③ 電極硫化断線
(7)セラミック振動子
　寿命に影響する材料、構造要素と故障モード、メカニズム,対策
　　・熱疲労寿命
　　・発振停止
(8)バリスタ
　寿命に影響する材料、構造、接合の技術要素と故障モード、メカニズム、対策
　　・サージ劣化
　　・熱劣化
(9)炭素皮膜抵抗
　寿命に影響する材料、構造要素と故障モード、メカニズム、対策
　　・抵抗体電食
　　・パルスサージ抵抗体断線
(10)整流ダイード
　寿命に影響する材料、構造、接合要素と故障モード、メカニズム、対策
　　・湿度劣化
　　・回復動作逆サージ劣化
(11)トランス、ソレノイド、コイル
　寿命に影響する材料、構造の要素と故障モード、メカニズム、対策
　　・熱水劣化（加水分解）
　　・溶剤劣化
(12)コネクタ
　寿命に影響する材料、構造、接合の技術要素と故障モード、メカニズム、対策
　　①摺動摩耗
　　②局部電池腐食
(13)リレー、スイッチ
　寿命に影響する材料、構造、接合の技術要素と故障モード、メカニズム、対策
　　①接点消耗・接点転移・接点溶着
　　②トラッキング・金原現象
　・クリープ破壊

7.故障モード別故障モデル式

8.付録

質疑・応答


講師紹介
社歴　　　
昭和無線工業（現ＳＭＫ）:5年2ヶ月
トリオ（現ＪＶＣケンウッド）:3ヶ月　
立石電機（現オムロン）:38年7ヶ月
職歴 　　
スイッチ製造技術:3年2ヶ月
コネクタ製造技術:1年
圧着・ハーネス製造技術:2年　
アンプ・チューナ製造技術:3ヶ月
部品メーカ監査（加工部品):20年
 （電子部品・機構部品）:25年
制御機構部品(リレー・スイッチ・タイマ・センサ）品質保証 :15年　
自動車電装部品(ＥＣＵ・リレー・センサ・スイッチ）品質保証 :25年
最終職位　　　　
品質保証部並びに部品技術部 部長
韓国オムロン電装 理事(役員)
上海欧姆龍控制電器 顧問
福達合金材料 顧問
学会活動　　 　
日本信頼性学会会員:23年
日本信頼性学会企画委員（地域委員）:2年
日本科学技術連盟講師:24年
日本科学技術連盟信頼性開発技術研究会　委員長:2年(1期)
日本科学技術連盟信頼性開発技術研究会　副委員長:4年(2期）