適切な統計・解析を行うための 実験・測定に必要な統計の基礎とデータ解析のポイント

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統計的推定・検定の原理と解釈について演習を交えながらわかりやすく解説する特別セミナー!!

講師 FIA 代表 福山 紅陽 先生
  三菱マテリアル(株)にて分析・評価に従事,協和界面科学(株)研究開発部長を経て現職
日時

2017/10/11(水) 10:00 ~ 17:00

会場

連合会館 (東京・お茶の水)

会場案内
受講料 1名:48,600円 同時複数人数申込みの場合 1名:43,200円
講師 FIA 代表 福山 紅陽 先生
  三菱マテリアル(株)にて分析・評価に従事,協和界面科学(株)研究開発部長を経て現職
日時 2017/10/11(水) 10:00 ~ 17:00
会場

連合会館 (東京・お茶の水)

会場案内
受講料 1名:48,600円 同時複数人数申込みの場合 1名:43,200円

受講対象

 ・製造業で,理工学実験データ,品質管理データなどを取り扱う方。
 ・統計解析の原理を理解していない方。データの解釈に自信をもてない方。

予備知識

 高校卒業程度の数学の知識(微分・積分の知識は不要)

習得知識

 ・データの信頼性と標本サイズとの関係を理解できる。
 ・母平均の推定・検定,母平均の差の推定・検定などの原理を理解できる。
 ・解析結果を正しく解釈できる。

持参品

 四則演算(+-×÷)と平方根(√)の計算のできる電卓・スマホ

講師の言葉

 製造業では研究,開発,量産,出荷後対応の各工程で実験や統計解析を⾏う必要があります。
 しかし,解析の基本原理を理解していないために適用すべき手法を誤ったり,正しい結果が得られているのにその解釈・結論を
誤ってしまうような例も少なくありません。
 本講義では,統計的推定・検定の最も基本的な手法を自力できるようになることを⽬標に,基礎知識を準備したうえで,
統計的推定・検定の原理と解釈について説明します。

プログラム

1.    真値,測定結果,誤差
 1.1    誤差は永久にわからない
 1.2    真値も永久にわからない
2.    全数検査と抜取検査
 2.1    母集団と標本の違い
 2.2    知りたいことと実際にわかることの違い
3.    分布とはなにか?
 3.1    いろいろな分布
 3.2    正規分布の特徴
 3.3    ばらつきとかたよりの違い
 3.4    平均,分散,標準偏差の意味
 3.5    分散,標準偏差の式で,なぜn-1で割るか?
 3.6    いつもn-1で割るとは限らない
4.    標本サイズと信頼性
 4.1    生データの分布と平均の分布の違い
 4.2    測定を繰り返せばばらつきは減るか?
 4.3    分散,標準偏差の式で,n-1で割ることの効果
 4.4    平均をとれば,どんな分布も正規分布に近づく
5. 実験の3原則
 5.1    実験の反復
 5.2    実験の局所管理
 5.3    実験の無作為化(ランダム化)
 5.4    測定回数を決めるポイント
6.    統計的検定・推定の原理
 6.1    検定,推定とは?
 6.2    第1種の誤り(生産者危険)と第2種の誤り(消費者危険)
 6.3    どの解析手法を選択すればよいか?
 6.4    母平均の検定(母分散既知の場合): 製品を出荷してよいか?
 6.5    母分散が既知,未知をどのように判断するか?
 6.6    母平均の推定(母分散既知の場合): 「平均」の値はどのくらい信頼できるか?
 6.7    両側信頼区間と片側信頼区間
 6.8    信頼区間をどう解釈するか?
 6.9    母平均の推定(母分散未知,小標本の場合)
 6.10    正規分布でないものの母平均を推定するとどうなるか?
 6.11    母平均の差の推定(母分散既知,大標本の場合): 試料間の差があるといえるか?
 6.12    母平均の差の推定(母分散未知,小標本の場合)
 6.13    無意味な有意差
 6.14    測定を繰り返せば何でも有意差になる
 6.15    母分散の推定: ばらつきは規格を満たしているといえるか?
 6.16    正規分布でないものの母分散を推定するとどうなるか?
 6.17    母分散の比の推定: 改良によってばらつきが減ったといえるか?

講師紹介

1993年3月 : 東京工業大学大学院 理工学研究科 無機材料工学専攻 修士課程 修了。

1993年4月 : 三菱マテリアル株式会社 入社。

     分析評価部門で,XPS(X線光電子分光装置),SIMS(2次イオン質量分析装置)のオペレーション,解析,分析技術の高精度化に従事。

1997年4月 : 協和界面科学株式会社 入社。

     技術部門で,接触角計,表面張力計の研究・開発・測定業務に従事。

2004年5月 : 協和界面科学株式会社 研究開発部長。

2010年10月 : FIA 創業。